车内数据流已超越单纯的信息传递，成为决定安全与效率的核心要素。低速以太网标准10BASE-T1S在其中发挥着关键作用，确保电池管理系统（BMS）、传感器、转向系统及安全系统等各类装置能够可靠地进行数据交互。
10BASE-T1S，有何特别之处？
10BASE-T1S是一种基于10 Mbps单对线缆（single-pair）的多点以太网技术，与现有100 Mbps及以上车载以太网不同，其专为传感器及低速设备通信优化设计。该技术采用差分曼彻斯特编码（DME）与物理层碰撞避免（PLCA）为核心技术，可在多节点环境中实现无冲突数据传输，最大传输距离可达约25米。
图1: 10BASE-T1S多点连接示例
差分曼彻斯特编码（DME）
DME与传统的曼彻斯特编码不同，其数据区分依据并非位极性，而是周期内是否发生电平转换。无论信号电平是上升还是下降，只要发生电平转换就解码为逻辑0，未发生则解码为逻辑1。这种方式能在低带宽环境下实现稳定的数据传输，即使信号发生反转或存在大量噪声，也能获得相同的解码结果。
即使在汽车内部的电磁干扰(EMI)环境中，DME也能帮助接收端轻松恢复时钟，从而提高数据可靠性。此外，由于每个周期都会发生电平转换，设备间同步变得更加容易，因此也适用于实时传感器数据通信。
图2: DME与曼彻斯特编码的对比（DME通过时钟采样点上边沿的存在与否来判断高电平/低电平）
物理层冲突避免（PLCA）
PLCA是一种专为10BASE-T1S设计的传输技术，使其能在多点总线环境中高效传输数据。每个物理层设备（PHY）均具有唯一ID，在PLCA周期内通过BEACON信号及N+1个时隙依次获得传输机会。当数据准备就绪的PHY获得传输机会时立即发送数据；若无数据，则发送SYNC COMMIT模式调整MAC等待时间，随后将机会传递给下一PHY。
PLCA通过在发生冲突前管理传输顺序，即使在多点连接环境中也能确保稳定的数据传输。在车内短距离总线环境中，PLCA同样能消除间歇性冲突的可能性，是提升传感器与控制装置间实时通信可靠性的核心功能。
物理层（PMA）合规性测试
10BASE-T1S PHY的物理层性能通过Open Alliance定义的PMA合规性测试进行验证。该测试旨在通过定量评估信号的电气特性与时序精度，确保在实际车载网络环境中的可靠性与互操作性。
发射信号的幅度基于差分峰峰值（Differential Peak-to-Peak）电压测量，过高会导致邻道干扰或反射，过低则会引发接收错误。同时，通过分析信号上升沿与下降沿的波动，评估时钟稳定性和数据传输一致性。通过长时间捕获数据计算累积分布函数（CDF）、时间间隔误差（TIE）等累积统计量，可分析总抖动（TJ），验证设备是否稳定运行。
受电缆长度和耦合电容影响，发射信号可能出现随时间逐渐衰减的下垂（Droop）现象。下垂指信号在维持恒定电平期间的缓慢衰减，规格要求该现象需控制在30%以内。
在频域中，基于伪随机二进制序列（PRBS）信号测量发射信号的功率谱密度（PSD），验证其是否符合电磁干扰（EMI）标准及PHY调制质量。此外，通过测量多模导线（MDI）的回波损耗（Return Loss）及进行模式转换（Mode Conversion）测试，可全面评估物理层性能。
图3: 功率谱密度，IV类掩码
图4: QualiPHY工具在自动测试完成后提供详细报告
自动化以太网合规性测试：QualiPHY与12位HDO示波器
Teledyne LeCroy的QualiPHY软件运行于HDO6034B及以上型号的12位示波器，相较于传统8位设备，其垂直分辨率提升了16倍，可以精准分析细微的信号失真现象。
QualiPHY基于IEEE 802.3标准和OPEN Alliance测试流程，可自动执行MultiGBase-T1、1000Base-T1、100Base-T1、10Base-T1S等多种单对以太网（SPE）标准的PMA测试。该软件可自动配置测试设置、连接 diagram及测试模式信息，最大限度减少用户操作失误，测量结果将以Pass/Fail判定及报告形式呈现。
与WavePulser 40iX配合使用时，可快速分析发射器和MDI接口问题的根本原因，不仅支持基本的标准验证，还能提供故障排查功能。
凭借示波器12位高精度分辨率、基于IEEE及开放联盟（OPEN Alliance）的可靠性，以及全自动化测试流程，QualiPHY解决方案已成为汽车及工业网络中同时保障PHY物理层质量与效率的最强有力工具。
关于我们
特励达力科（Teledyne Lecroy）是高端示波器、协议分析仪和其他测试仪器的专业制造商，可快速全面地验证电子系统的性能和合规性，并进行复杂的调试分析。
1964 年成立以来，公司一直专注于将强大的工具整合到创新产品中，以提高“洞察时间”。更快的洞察时间使用户能够快速查找和修复复杂电子系统中的缺陷，从而显著缩短产品的上市时间。
